امروز جمعه 09 مرداد 1405

Friday 31 July 2026

نانو و فوتوالکترون اشعه ایکس


1401/08/01
کد خبر : 36674
دسته بندی : ثبت نشده
تعداد بازدید : 74 نفر
اسپکتروسکوپی الکترون اوژه (AES) و فوتوالکترون اشعه ایکس(XPS) دو روش عمومی برای تعیین عناصر و حالتهای شیمیایی موجود در nm ۵ سطح نمونه‌های جامد هستند، یعنی ده تا بیست لایه اتمی. از ترکیب این دو روش با اسپاترینگ باریکه یونی تحلیل عمقی تا حدود یک میکرون قابل انجام است که اینها را تبدیل به روشهای کارآمدتری به ویژه در تحقیقات نانوالکترونیک، شیمی، بیومواد و نانوبیومواد، خوردگی و چسبندگی کرده است. کالیبراسیون این دستگاه از اهمیت ویژه ای برخوردار است زیرا برای تحلیل کیفی و کمی صحیح باید داده های کالیبره شده مورد استفاده قرار گیرند.
گالری تصاویر

لینک کوتاه :
https://mail.aftabir.com.168-119-213-99.cpanel.site/article/show/36674
PRINT
شبکه های اجتماعی :
PDF
نظرات
جدیدترین اخبار ها
بروزترین اخبار ها
مطالب مرتبط

مشاهده بیشتر

با معرفی کسب و کار خود در آفتاب در فضای آنلاین آفتابی شوید
همین حالا تماس بگیرید